高溫測(cè)試是模擬產(chǎn)品在貯存、裝配和使用過程中的耐高溫狀況而進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)，高溫試驗(yàn)也是最常用的加速壽命測(cè)試。高溫測(cè)試目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。
高低溫測(cè)試主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料，測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫可能使產(chǎn)品過熱,影響使用安全可靠性，甚至損壞，如：
· 由于各種材料的膨脹系數(shù)不同，導(dǎo)致材料之間的粘結(jié)和遷移
· 使材料性能發(fā)生變化
· 使元器件電性能下降
· 彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命
· 加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過程,縮短產(chǎn)品使用壽命。
· 橡膠等柔韌性材料的彈性降低，并產(chǎn)生破裂；
· 金屬和塑料脆性增大，導(dǎo)致破裂或產(chǎn)生裂紋；
· 使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降
等
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考：GB/T 2423.1，GB/T 2423.2， IEC 60068-2-1，IEC 60068-2-2，EN 60068-2-1，EN 60068-2-2 等。
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