高低溫測(cè)試是適用于電子產(chǎn)品、汽車(chē)非金屬材料、內(nèi)外飾件及各類(lèi)電子電氣產(chǎn)品的性能與可靠性試驗(yàn)，對(duì)溫度有較大的控制范圍，在設(shè)備應(yīng)用上，選擇滿足“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程”的溫濕度可控制量程，即可進(jìn)行電子產(chǎn)品或材料的高溫、低溫和濕熱交變等環(huán)境試驗(yàn)。

對(duì)于各種塑料、橡膠等非金屬材料、車(chē)身附件和電工電子產(chǎn)品的高溫、熱老化試驗(yàn)，選用高溫恒溫試驗(yàn)箱，它屬于氣候模擬箱。通過(guò)試驗(yàn)?zāi)軌蛄私馄?chē)零部件的耐高溫性能，如汽車(chē)上橡塑件的熱老化性能，車(chē)身附件及電子產(chǎn)品的耐熱性能，測(cè)試汽車(chē)內(nèi)外飾材料及電氣件在高溫和恒溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能，是汽車(chē)部件質(zhì)量控制的重要一環(huán)。

高低溫測(cè)試測(cè)試流程：
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個(gè)小時(shí)；請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測(cè)試。
2、開(kāi)機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。
3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。
4、升溫到+90°C，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。
5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。
如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。